DE-WI系列步入式試驗室（高溫老化HT/高低溫HLT/恒溫恒濕CTH）
提供業(yè)界大型零件、半成品、成品、溫濕度環(huán)境測試，如：電腦終端機、汽車零部件、LED平板燈、醫(yī)療器械、電子/電力設備批量試驗等。

產(chǎn)品型號：DE-WI

更新時間：2022-11-17

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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桌面型環(huán)境試驗箱

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DE-WI系列步入式試驗室（高溫老化HT/高低溫HLT/恒溫恒濕CTH）

一、主要依據(jù)標準和試驗方法

»GB2423.1-2008/1EC6008-2-1-2007 低溫試驗方法

»GB/T2423.2-2008 高溫試驗方法

»GJB150.3A-2009 高溫試驗方法

»GJB150.4A-2009 低溫試驗方法

»GB2423.22-2008 溫度變化速率試驗方法

»GBT2424.5-2006 溫度試驗箱性能確認

»GB/T10586-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件

»GB/T2423.3-2008(1EC68-2-3) 恒定濕熱試驗方法

»GJB150.9A-2009 濕熱試驗方法

»G/BT2423.4-2008/1EC6008-2-30:2005 交變濕熱方法

»GB/T5170.18-2005 試驗設備基本參數(shù)檢定方法

»GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件

»GBT2424.6-2006 溫度濕度試驗箱性能確認

»GBT2424.7-2006 (帶負載)溫度試驗箱測量

二、步入式試驗室技術(shù)參數(shù)

上海志勤環(huán)境技術(shù)有限公司（簡稱“志勤環(huán)境”）致力于環(huán)境與可靠性試驗儀器的研發(fā)、制造和銷售，鑄就了品質(zhì)可靠、技術(shù)精良的品牌形象，同時公司深入把握產(chǎn)業(yè)技術(shù)動向，積極研發(fā)與企業(yè)需求密切相關(guān)的可靠性試驗儀器，并不斷積極參加可靠性試驗工程建設，為大量的汽車、電力電子、醫(yī)療和信息技術(shù)產(chǎn)品企業(yè)的科技進步提供了可靠的質(zhì)量保障。

志勤環(huán)境與上海理工大學成立了聯(lián)合研發(fā)中心，設有制冷系統(tǒng)與硬件開發(fā)、軟件開發(fā)、結(jié)構(gòu)設計小組，配有資料室、設備室、實驗室等基礎(chǔ)設施，可進行多種檢測性實驗，包括：可靠性試驗和電磁兼容試驗等，實現(xiàn)了對產(chǎn)品的全面檢測，確保每件產(chǎn)品的質(zhì)量。

上一個：DE-HLT系列可程式高低溫試驗箱